[发明专利]防反射膜及光学元件有效
申请号: | 201210421217.0 | 申请日: | 2012-10-29 |
公开(公告)号: | CN103091734A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 川岸秀一朗;山下照夫 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G02B1/11 | 分类号: | G02B1/11;G02B3/02 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 丁香兰;褚瑶杨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种防反射膜及光学元件,能够有效地减少重影的发生,该防反射膜形成在光学部件的光学面上,防止入射到所述光学面上的光线的反射,其特征在于,作为光线以入射角为0度入射到所述光学面时的分光反射率特性,第1波长范围中的最大反射率P1和第2波长范围中的最大反射率P2满足P1>P2的关系,其中,与所述第1波长范围相比,第2波长范围为长波长侧,通过使反射率为规定值以下的波长范围位移至相对于所述第2波长范围的长波长侧,使所述第2波长范围中的反射率降低,同时使所述第1波长范围中的反射率增加,以使所述第1波长范围和所述第2波长范围的重影的亮度差异减小。 | ||
搜索关键词: | 反射 光学 元件 | ||
【主权项】:
一种防反射膜,其形成在光学部件的光学面上,防止入射到所述光学面上的光线的反射,其特征在于,作为光线以入射角为0度入射到所述光学面时的分光反射率特性,第1波长范围中的最大反射率P1和第2波长范围中的最大反射率P2满足P1>P2的关系,其中,与所述第1波长范围相比,第2波长范围为长波长侧,通过使反射率为规定值以下的波长范围位移至相对于所述第2波长范围的长波长侧,使所述第2波长范围中的反射率降低,同时使所述第1波长范围中的反射率增加,以使所述第1波长范围和所述第2波长范围的重影的亮度差异减小。
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