[发明专利]一种基于光耦的过零检测电路

摘要

本发明涉及一种过零检测电路，是一种基于光耦的过零检测电路，由输入端L和N，两个限流电阻、一个二极管、一个光耦、一个三极管、以及若干阻容元件组成，L和N为过零检测电路的输入端，两个限流电阻R1和R2串联，一端接L，另一端接光耦U1的正向输入端，光耦U1的另一输入端接N，光耦U1的集电极输出端接三极管Q1的基极，并通过一电阻R3接电源，光耦U1的另一输出端接三极管Q1的发射极，并接地，三极管Q1的集电极通过一电阻R5接外部检测端口。本发明电路结构简单、成本低廉、稳定可靠、使用方便，可根据电平切换的边沿，有效检测出交流电的零点，供其他电路判断和控制。

主权项

一种基于光耦的过零检测电路，其特征在于：包括交流信号输入端L和N，两个交流信号限流电阻R1和R2一个光耦U1、一个三极管Q1以及外围电阻和电容；所述交流信号输入端L和N为过零检测电路的输入端，其中交流信号输入端L接市电220V的火线，交流信号输入端N接市电220V的零线；所述的两个限流电阻R1和R2串联后一端接交流信号输入端L，另一端接光耦U1的正向输入端，所述光耦U1的另一输入端接交流信号输入端N；所述光耦U1的集电极输出端接三极管Q1的基极，并通过一电阻R3接电源，所述光耦U1的另一输出端接三极管Q1的发射极，并接地；所述三极管Q1的集电极通过一电阻R5接外部检测端口；当交流电处于正半周时，光耦U1的发光二极管导通并发光，致使内部的光敏三极管导通，并输出低电平，使与之相连的三极管Q1截止并输出高电平；当交流电处于负半周时，光耦U1的发光二极管截止，致使内部的光敏三极管截止，并输出高电平，使与之相连的三极管Q1导通并输出低电平。