[发明专利]一种基于光耦的过零检测电路

权利要求书

1.一种基于光耦的过零检测电路，其特征在于：包括交流信号输入端L和N，两个交流信号限流电阻R1和R2一个光耦U1、一个三极管Q1以及外围电阻和电容；所述交流信号输入端L和N为过零检测电路的输入端，其中交流信号输入端L接市电220V的火线，交流信号输入端N接市电220V的零线；所述的两个限流电阻R1和R2串联后一端接交流信号输入端L，另一端接光耦U1的正向输入端，所述光耦U1的另一输入端接交流信号输入端N；所述光耦U1的集电极输出端接三极管Q1的基极，并通过一电阻R3接电源，所述光耦U1的另一输出端接三极管Q1的发射极，并接地；所述三极管Q1的集电极通过一电阻R5接外部检测端口；

当交流电处于正半周时，光耦U1的发光二极管导通并发光，致使内部的光敏三极管导通，并输出低电平，使与之相连的三极管Q1截止并输出高电平；当交流电处于负半周时，光耦U1的发光二极管截止，致使内部的光敏三极管截止，并输出高电平，使与之相连的三极管Q1导通并输出低电平。

2.如权利要求1所述的基于光耦的过零检测电路，其特征在于：所述光耦U1的两输入端之间跨接有二极管D1，二极管D1一方面为光耦起到反向保护作用，另一方面也为交流电提供反向通路。

3.如权利要求1所述的基于光耦的过零检测电路，其特征在于：所述三极管Q1的集电极通过一电阻R4接电源，电阻R4R4起上拉电阻作用，为电路提供稳定可靠的高电平输出。

4.如权利要求1所述的基于光耦的过零检测电路，其特征在于：所述三极管Q1的集电极通过一电阻R5所接的外部检测端口和地之间跨接有滤波电容C1，该电容起滤波作用，可滤除该检测端口处的高频毛刺，使输出更稳定可靠。