[发明专利]存储器内建自测试电路有效
| 申请号： | 201210413645.9 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN102903393B | 公开（公告）日： | 2017-04-05 |
| 发明（设计）人： | 李鸣 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种存储器内建自测试电路，用于对存储装置进行测试，包括命令解析电路、数据产生电路及方向选择电路，该命令解析电路一输入端自该方向选择电路输入测试输入数据，第一引脚接测试时钟输入至该命令解析电路，该数据产生电路输出测试输出数据至该方向选择电路，并输出一方向控制信号至该方向选择电路以对输入输出进行方向选择，该方向选择电路通过第二引脚进行数据的输入输出，本发明通过方向选择电路将测试输入数据及测试输出数据合并，并内部产生测试触发信号及测试复位信号，仅需三个引脚，节省了三个引脚，提高了测试效率，节省了测试费用。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种存储器内建自测试电路，用于对存储装置进行测试，包括：命令解析电路、数据产生电路及方向选择电路，该命令解析电路一输入端自该方向选择电路输入测试输入数据，第一引脚接测试时钟输入至该命令解析电路，该数据产生电路输出测试输出数据至该方向选择电路，并输出一方向控制信号至该方向选择电路以对输入输出进行方向选择，该方向选择电路通过第二引脚进行数据的输入输出；测试开始时，方向控制信号控制所述方向选择电路为输入，所述第二引脚接命令解析电路以接测试输入数据，测试输入数据与测试时钟被送至命令解析电路，并输出测试触发信号，在测试触发信号触发下，数据产生电路开始工作，对存储电路进行测试，测试完成后，返回数据经数据产生电路处理，得到测试输出数据，方向控制信号控制方向选择电路为输出，测试输出数据被输出至第二引脚。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司，未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210413645.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于浮法玻璃生产线锡槽的电加热系统
- 下一篇：熔窑新型观火孔
