[发明专利]检测存储设备坏块的方法和装置

摘要

本发明提供一种检测存储设备坏块的方法和装置，该方法包括：向目标块中写入目标数据和目标数据对应的普通校验强度的校验码；比较目标数据与目标块中存储的目标数据，获取目标块中存储的目标数据中发生翻转的位的数量；当目标块中存储的目标数据中发生翻转的位的数量大于或等于预设的第一校验水线并小于预设的第二校验水线时，为目标块添加准坏块标记，生成目标数据对应的高级校验强度的校验码并采用高级校验强度的校验码更新目标块中写入的普通校验强度的校验码；当目标块中存储的目标数据中发生翻转的位的数量大于或等于第二校验水线时，为目标块添加坏块标记。检测存储设备坏块的方法可保证存储数据能被正确读出，有效提高了存储设备的可靠性。

主权项

一种检测存储设备坏块的方法，其特征在于，包括：向目标块中写入目标数据和所述目标数据对应的普通校验强度的校验码；比较所述目标数据与所述目标块中存储的所述目标数据，获取目标块中存储的目标数据中发生翻转的位的数量；当所述目标块中存储的目标数据中发生翻转的位的数量大于或等于预设的第一校验水线并小于预设的第二校验水线时，为所述目标块添加准坏块标记，生成所述目标数据对应的高级校验强度的校验码并采用所述高级校验强度的校验码更新所述目标块中写入的普通校验强度的校验码；当所述目标块中存储的目标数据中发生翻转的位的数量大于或等于所述第二校验水线时，为所述目标块添加坏块标记。