[发明专利]太阳能芯片的抗反射层的检测方法及检测装置无效
| 申请号： | 201210405228.X | 申请日： | 2010-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN102927918A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 王琼姿 | 申请（专利权）人： | 立晔科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种太阳能芯片的抗反射层的检测方法及检测装置，主要将一白色光源投射在一待测太阳能芯片上，并利用摄像单元对太阳能芯片进行影像的撷取以产生一影像数据，而后再对影像数据的色度进行分析，在分析的过程中可将影像数据区分成多个影像单元，并分别对各个或部分影像单元的色度进行分析，以推算出各个或部分影像单元内的抗反射层的厚度，借此将可以快速完成太阳能芯片上的抗反射层厚度的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 太阳能 芯片 反射层 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种太阳能芯片的抗反射层厚度的检测方法，其特征在于，包括有以下步骤：对一太阳能芯片进行影像撷取，并产生一影像数据，其中该太阳能芯片表面设置有一抗反射层；将该影像数据区分成多个影像单元，并取得该影像单元的色度；及由该影像单元的色度推算出该抗反射层的厚度。
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