[发明专利]用于压力感测器的自我测试结构及其方法有效
申请号: | 201210381310.3 | 申请日: | 2012-10-09 |
公开(公告)号: | CN103712737A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 郑惟仁 | 申请(专利权)人: | 京元电子股份有限公司 |
主分类号: | G01L25/00 | 分类号: | G01L25/00;G01L1/00;B81B3/00 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种用于压力感测器的自我测试结构及其方法。自我测试结构包含基板、多个薄膜层、固定部、电热单元及感测电路单元。薄膜层堆叠形成于基板上。固定部设于薄膜层上方,其中固定部包含凹槽,与薄膜层之间形成腔体。电热单元形成于其中之一的薄膜层中,感测电路单元形成于其中另一个薄膜层中,其中电热单元根据输入电压予以加热提高腔体压力,使薄膜层产生微变形,而感测电路单元则根据微变形输出测试信号。 | ||
搜索关键词: | 用于 压力 感测器 自我 测试 结构 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种用于压力感测器的自我测试结构,其特征在于其包含:基板;多个薄膜层,堆叠形成于该基板上;固定部,设于所述多个薄膜层上方,其中该固定部具有凹槽,且该凹槽与所述多个薄膜层形成腔体;电热单元,形成于该其中之一薄膜层中;及感测电路单元,形成于该其中另一个薄膜层中;其中该电热单元根据输入电压予以加热提高该腔体压力,使所述多个薄膜层产生微变形,而该感测电路单元则根据该微变形输出测试信号。
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