[发明专利]用于压力感测器的自我测试结构及其方法有效
申请号: | 201210381310.3 | 申请日: | 2012-10-09 |
公开(公告)号: | CN103712737A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 郑惟仁 | 申请(专利权)人: | 京元电子股份有限公司 |
主分类号: | G01L25/00 | 分类号: | G01L25/00;G01L1/00;B81B3/00 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 压力 感测器 自我 测试 结构 及其 方法 | ||
1.一种用于压力感测器的自我测试结构,其特征在于其包含:
基板;
多个薄膜层,堆叠形成于该基板上;
固定部,设于所述多个薄膜层上方,其中该固定部具有凹槽,且该凹槽与所述多个薄膜层形成腔体;
电热单元,形成于该其中之一薄膜层中;及
感测电路单元,形成于该其中另一个薄膜层中;
其中该电热单元根据输入电压予以加热提高该腔体压力,使所述多个薄膜层产生微变形,而该感测电路单元则根据该微变形输出测试信号。
2.根据权利要求1所述的用于压力感测器的自我测试结构,其特征在于,其中该电热单元为金属材质。
3.根据权利要求1所述的用于压力感测器的自我测试结构,其特征在于,其中该薄膜层设有穿孔。
4.根据权利要求2所述的用于压力感测器的自我测试结构,其特征在于,其中该电热单元具有环状结构。
5.根据权利要求2所述的用于压力感测器的自我测试结构,其特征在于,其中该电热单元具有蜿蜒状结构。
6.根据权利要求2所述的用于压力感测器的自我测试结构,其特征在于,其中该电热单元具有回圈状结构。
7.根据权利要求1所述的用于压力感测器的自我测试结构,其特征在于,其中该感测电路单元包含惠斯顿电桥电路。
8.一种用于压力感测器的自我测试方法,其中该压力感测器具有多个薄膜层,其特征在于该方法包含:
提供输入电压至自我测试结构;
根据该输入电压予以加热提高腔体压力,使所述多个薄膜层产生微变形;及
输出对应该微变形的测试信号。
9.根据权利要求8所述的用于压力感测器的自我测试方法,其特征在于,其中提供该输入电压的步骤包含:将该输入电压自输入端予以输入,并且通过所述多个薄膜层的穿孔传送至电热单元。
10.根据权利要求8所述的用于压力感测器的自我测试方法,其特征在于,其中输出该测试信号的步骤包含:使用感测电路单元,检测所述多个薄膜层的该变化,以判读是否良好完整,其中该感测电路单元等效为惠斯顿电桥电路。
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