[发明专利]高速太赫兹波调制装置及其方法无效
| 申请号： | 201210373275.0 | 申请日： | 2012-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN102902130A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 李九生 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G02F1/355 | 分类号： | G02F1/355;H04B10/516 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310018 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高速太赫兹波调制装置及其方法。它包括太赫兹波输入端、激光输入端、太赫兹波输出端、太赫兹波探测器、半圆柱形高阻硅透镜、金属薄膜层和基体；在基体上设有金属薄膜层，金属薄膜层上设有半圆柱形高阻硅透镜，半圆柱形高阻硅透镜下底面为长方形，半圆柱形高阻硅透镜下底面与金属薄膜层相连，太赫兹波从太赫兹波输入端输入，在没有外加激光的条件下，太赫兹波被反射回太赫兹波输出端，太赫兹波输出端相应位置设有太赫兹波探测器。本发明的高速太赫兹波调制装置具有结构简单紧凑，体积小、制作方便，响应速度快，易于调节，满足在太赫兹波成像、产品检测、太赫兹无线通信系统等领域应用要求。 | ||
| 搜索关键词： | 高速 赫兹 调制 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种高速太赫兹波调制装置，其特征在于包括太赫兹波输入端（1）、激光输入端（2）、太赫兹波输出端（3）、太赫兹波探测器（4）、半圆柱形高阻硅透镜（5）、金属薄膜层（6）和基体（7）；在基体（7）上设有金属薄膜层（6），金属薄膜层（6）上设有半圆柱形高阻硅透镜（5），半圆柱形高阻硅透镜（5）下底面为长方形，半圆柱形高阻硅透镜（5）下底面与金属薄膜层（6）相连，太赫兹波从太赫兹波输入端（1）输入，在没有外加激光的条件下，太赫兹波被反射回太赫兹波输出端（3），太赫兹波输出端（3）相应位置设有太赫兹波探测器（4）。
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