[发明专利]基于量子统计的高精度光学成像装置与方法有效
| 申请号： | 201210364582.2 | 申请日： | 2012-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN102902056A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 孙方稳;崔金明;郭光灿 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G02B21/36 | 分类号： | G02B21/36 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于量子统计的光学成像装置，包括激光共聚焦显微装置(1)、单光子计数统计装置(2)和主控装置(3)，其中，激光共聚焦显微装置(1)用于激发样品并收集样品发射的荧光，并将该荧光导入所述单光子计数统计装置(2)；单光子计数统计装置(2)用于接收来自激光共聚焦显微装置(1)的荧光信号，产生多个单光子计数信号和多光子符合计数信号，并向主控装置(3)输出多个单光子计数信号和多光子符合计数信号；主控装置(3)分别连接于所述激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，用于产生控制信号并分别输出给激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，以控制激光共聚焦显微装置(1)的共聚焦扫描与单光子计数统计装置(2)的数据采集同步。本发明能提供相邻物体的高精度成像和分辨，其精度不受瑞利极限限制。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 量子 统计 高精度 光学 成像 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于量子统计的光学成像装置，其特征在于，包括激光共聚焦显微装置(1)、单光子计数统计装置(2)和主控装置(3)，其中，激光共聚焦显微装置(1)用于激发样品并收集样品发射的荧光，并将该荧光导入所述单光子计数统计装置(2)；单光子计数统计装置(2)用于接收来自激光共聚焦显微装置(1)的荧光信号，产生多个单光子计数信号和多光子符合计数信号，并向主控装置(3)输出多个单光子计数信号和多光子符合计数信号，所述多个单光子计数信号和多光子符合计数信号用于重构样品图像；主控装置(3)分别连接于所述激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，用于产生控制信号并分别输出给激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，以控制激光共聚焦显微装置(1)的共聚焦扫描与单光子计数统计装置(2)的数据采集同步。
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