[发明专利]高浓度样品电热蒸发进样的超限控制方法及其装置有效
| 申请号： | 201210357203.7 | 申请日： | 2012-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN102830008A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 刘霁欣;周齐;冯礼;郑逢喜;路东 | 申请（专利权）人： | 北京吉天仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44 |
| 代理公司： | 北京双收知识产权代理有限公司 11241 | 代理人： | 卢新 |
| 地址： | 100016 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高浓度样品电热蒸发进样的信号超限控制方法及其装置，该方法步骤简单且可以防止高浓度待测物质污染管路；该装置结构简单、操作简便。本发明方法包括以下步骤：1）控制电热蒸发器以低条件过程加热蒸发样品，将部分蒸发的样品送入样品检测仪器进行检测；2）将部分蒸发的待测物质峰面积×（40~100）作为总待测物质估算峰的峰面积，根据总待测物质估算峰的峰面积计算总待测物质估算峰的理论峰高；3）将总待测物质估算峰的理论峰高与样品检测仪器的峰高量程进行比较。本发明装置包括电热蒸发器和样品检测仪器，还包括数据处理装置和控制电热蒸发器加热功率和加热时间的加热控制器。 | ||
| 搜索关键词： | 浓度 样品 电热 蒸发 超限 控制 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种高浓度样品电热蒸发进样的超限控制方法，其特征在于包括以下步骤：（1）控制电热蒸发器以低条件过程加热蒸发样品，所述低条件过程是指：经过该过程后，样品中的待测物质仅部分蒸发且样品检测仪器可以检测到部分蒸发的待测物质，所蒸发样品进入样品检测仪器进行检测，得到部分蒸发的待测物质峰面积；（2）将部分蒸发的待测物质峰面积×（40~100）作为总待测物质估算峰的峰面积，根据总待测物质估算峰的峰面积计算总待测物质估算峰的理论峰高，所述总待测物质估算峰是指：假设样品检测仪器峰高量程无限大，将样品一次性全部蒸发后样品检测仪器检测到的待测物质峰；（3）将总待测物质估算峰的理论峰高与样品检测仪器的峰高量程进行比较，如果总待测物质估算峰的理论峰高数量级＜样品检测仪器的峰高量程数量级，控制电热蒸发器将剩余待测物质全部加热蒸发进行检测；如果总待测物质估算峰的理论峰高数量级≥样品检测仪器的峰高量程数量级，剩余样品不再进行加热蒸发。
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