[发明专利]混合集成电路的微调测试系统及其方法无效
| 申请号： | 201210351128.3 | 申请日： | 2012-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN102938646A | 公开（公告）日： | 2013-02-20 |
| 发明（设计）人： | 鞠莉娜;王晓臣;董冀;刘海亮 | 申请（专利权）人： | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 孙仿卫;李艳 |
| 地址： | 215163 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块构成，微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元、多路DAC模块；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段数字信号与第二段数字信号共同构成输入多路DAC模块的输入信号；第二段数字信号输入通道选择电路以选择多路DAC模块的通道，并将选择的通道存储在锁存译码单元；多路DAC模块通过对输入信号经过模拟输出，并将模拟输出的结果以及通道传递给控制装置，并通过控制装置对多路DAC模块进行反馈调节。 | ||
| 搜索关键词： | 混合 集成电路 微调 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块，其特征在于：所述微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段数字信号与第二段数字信号共同构成输入多路DAC模块的输入信号；第二段数字信号输入通道选择电路以选择多路DAC模块的通道，并将选择的通道存储在锁存译码单元；多路DAC模块通过对输入信号经过模拟输出，并将模拟输出的结果以及通道传递给控制装置，并通过控制装置对多路DAC模块进行反馈调节。
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