[发明专利]混合集成电路的微调测试系统及其方法

说明书

技术领域

本发明中涉及了一种混合混合集成电路的微调测试系统，还涉及了一种混合混合集成电路的微调测试方法。

背景技术

目前数模转换器在半导体测试中已经是很成熟的测试技术，针对它已开发了专门的测试设备，如专利号为200910048936.0的专利采用ARM核心片对数模转换器进行自动测试、专利号为201010251150.1的专利是一种对数模转换电路的自测装置和自测方法，但是目前针对基于混合混合集成电路的多路数模转换器（DAC）的微调、测试尚待填补空缺。本发明实现混合混合集成电路多路数模转换电路的测试的需求，结构简单实用，节约了测试成本，提高了测试效率，灵活性很强，可移植性好。

发明内容

本发明提供了一种混合混合集成电路的微调测试系统及其方法，其有效提高数模转换电路量程、转换精度、通道一致性等多项参数的测试。

本发明公开了一种混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块，所述微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段数字信号与第二段数字信号共同构成输入多路DAC模块的输入信号；第二段数字信号输入通道选择电路以选择多路DAC模块的通道，并将选择的通道存储在锁存译码单元；多路DAC模块通过对输入信号经过模拟输出，并将模拟输出的结果以及通道传递给控制装置，并通过控制装置对多路DAC模块进行反馈调节。

优选地，所述信号产生器为FPGA芯片。

优选地，所述输入信号共16位，所述第一段数字信号为所述输入信号的高12位，所述第二段数字信号为所述输入信号的低4位。

优选地，它还包括一测量装置，用于对模拟输出进行测量，并将测量的结果传递给控制装置。

优选地，所述信号产生器包括以下信号：Reset_b，优先级最高，一旦检测到下降沿时DAC测试模块全部寄存器清零复位；Auto，高电平时，输出数字信号自动变换，低电平时，输出数字信号手动变换，Key起作用；Key，控键每按下一次后，输出数字信号流变换一次；Direction，高电平时，输出数字信号为自增模式，低电平时，输出数字信号为自减模式；Special，高电平时，输出数字信号为用户自定义的数组，低电平时，输出数字信号每个设定时钟单位变化一个数字位；Start，高电平时，微调测试系统工作，低电平时，微调测试系统停止。

一种系统的微调测试方法，它包括以下步骤：

（1）偏置调整：当输入信号为0000H时，保证模拟输出的结果为－10.000000V；

（2）增益调整：当输入信号为FFFFH时，保证模拟输出的结果为9.999694V；

（3）零位调整：当输入信号为8000H时，保证模拟输出的结果为0V。

优选地，所述多路DAC模块包括激光调阻装置，该激光调阻装置通过调整厚膜电阻以调节模拟信号的模拟输出。

本发明采用以上结构和方法，通过FPGA芯片产生有效、稳定、可实时切换的数字信号，实现多路数模转换电路量程、对称性参数高精度微调，满足多路数模转换电路精密测试的需求，有效提高数模转换电路量程、转换精度、通道一致性等多项参数的测试。

附图说明

附图1为本发明中的混合集成电路的微调测试系统的结构原理图。

附图2为本发明中的信号产生器的原理示意图。

附图3为本发明中综合仿真后的混合集成电路的微调测试系统的结构原理图。

附图4为本发明中的混合集成电路的微调测试系统的第一仿真示意图。

附图5为本发明中的混合集成电路的微调测试系统的第二仿真示意图。

附图6为本发明中的混合集成电路的微调测试系统的握手协议示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。