[发明专利]利用光学显微镜图片判断石墨烯层数与厚度的方法无效

专利信息
申请号: 201210327931.3 申请日: 2012-09-07
公开(公告)号: CN102854136A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 丁荣;王英英;倪振华 申请(专利权)人: 泰州巨纳新能源有限公司
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00;G01B11/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 225300 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种利用光学显微镜图片判断石墨烯厚度和层数的方法。它是利用光学显微镜拍下石墨烯在衬底上的光学图片,利用软件将图片的R,G,B三色的刺激值提取出来;将石墨烯样品上的刺激值与衬底的刺激值进行比较,得出对比度值C=(刺激值衬底-刺激值石墨烯)/刺激值衬底;最后将该对比度值与理论计算获得的对比度值C0进行比较,可以精确地判断石墨烯的层数及厚度。此方法具有操作简单、效率高、成本低、误差小,且可以用于判断不同衬底上不同方法制备的石墨烯的厚度,另外还可以判断其他二维纳米薄膜材料的厚度等优势。
搜索关键词: 利用 光学 显微镜 图片 判断 石墨 层数 厚度 方法
【主权项】:
一种利用光学显微镜图片判断石墨烯厚度和层数的方法,其特征在于:利用光学显微镜拍下石墨烯在衬底上的光学图片,利用软件将图片的R,G,B三色的刺激值提取出来;将石墨烯样品上的刺激值与衬底的刺激值进行比较,得出对比度值C=(刺激值衬底‑刺激值石墨烯)/刺激值衬底;最后将该对比度值与理论计算获得的对比度值C0进行比较,可以精确地判断石墨烯的层数及厚度,其步骤如下:1).获得光学显微镜图片;   2).计算在特定衬底上的理论对比度值;   3).利用软件提取光学图片的R,G,B值;   4).计算得到实验对比度值;   5).与理论对比度值进行比较,得到石墨烯的厚度和层数。
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