[发明专利]发光装置的光量补偿检查方法有效
| 申请号： | 201210312466.6 | 申请日： | 2012-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN103488067A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 吉田治信;張子良;彭柏雄 | 申请（专利权）人： | 日昌电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G03G15/043 | 分类号： | G03G15/043 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;常大军 |
| 地址： | 中国台湾新北市新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光量补偿检查方法，适用于包含多个发光元件的发光装置，其包含逐一对发光元件执行下列步骤：测量发光元件于基准时间区间内输出的原始光量；根据所测得的原始光量与基准光量产生对应发光元件的校正值；以及根据校正值调整发光元件的光输出，使原始光量达到目标光量。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 装置 补偿 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种发光装置的光量补偿检查方法，该发光装置包含多个发光元件，其特征在于，该光量补偿检查方法包含：逐一对该些发光元件执行下列步骤：测量该发光元件于一基准时间区间内输出的一原始光量；根据所测得的该原始光量与一基准光量产生对应该发光元件的一校正值；以及根据该校正值调整该发光元件的光输出，使该原始光量达到一目标光量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日昌电子股份有限公司，未经日昌电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210312466.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于电磁搅拌器的磁场检测装置
- 下一篇：被加工材料的排出装置
