[发明专利]一种铁矿石的X荧光分析方法无效
| 申请号： | 201210310199.9 | 申请日： | 2012-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN102854210A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 王春;王再鼎;丁连萍 | 申请（专利权）人： | 芜湖新兴铸管有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人： | 张小虹 |
| 地址： | 241002 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种铁矿石的X荧光分析方法，1）所述的分析方法中采用的仪器主要包括：荧光光谱仪和粉末压片机，所述的粉末压片机的最大压力为50t；2）所述的分析方法中采用样品的制备：样品经粉碎研磨后，制成粒度为200目或200目以上粉样，称取粉样9.5～l0.0g于制粉器中，然后用硼酸作边，在粉末压片机上进行压片，在大于或等于40t的压力下保压40s或40s以上的时间，制成样片；将样片装入样盒，按设定的分析条件，在X荧光光谱仪上进行分析。采用上述技术方案，使铁矿石成分分析简便、快速，提高效率、精密度和准确度，能够满足生产需要。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 铁矿石 荧光 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种铁矿石的X荧光分析方法，其特征在于：1）、所述的分析方法中采用的仪器主要包括：荧光光谱仪和粉末压片机，所述的粉末压片机的最大压力为50t；2）、所述的分析方法中采用样品的制备：样品经粉碎研磨后，制成粒度为200目或200目以上粉样，称取粉样9.5～l0.0g于制粉器中，然后用硼酸作边，在粉末压片机上进行压片，在大于或等于40t的压力下保压40s或40s以上的时间，制成样片；将样片装入样盒，按设定的分析条件，在X荧光光谱仪上进行分析；3）、仪器的工作条件：铁元素选用Kp线；二氧化硅、磷、硫、钙、镁、铝、钛元素分别选用SiKa线、PKa线、SKa线、CaKa线、MgKa线、A1Ka线、TiKa线；管压：40kV，管流：60mA，计数时间：6s。
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