[发明专利]光谱仪亮度自校准调节测控系统及测量方法无效
| 申请号： | 201210291003.6 | 申请日： | 2012-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN102829864A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 王智宏;刘杰;于永;滕飞;孙玉洋 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01N21/25 |
| 代理公司： | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人： | 王立文 |
| 地址： | 130012 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光谱仪亮度自校准调节测控系统及光谱测量方法。该系统为光机电一体化的闭环控制结构，由光谱信号采集单元、亮度自动校准控制单元、光源可控稳流单元和参比调节单元四部分构成。其方法是光源可控稳流单元经单色器、取样器得到样品的光谱信号，可控稳流单元控制电流和参比调节单元的转动角度；以保证实际测量时参比的测量信号不超出量程。通过改变样品的入射光强的方式，使光谱仪对不同反射率或透过率样品测量的光谱数据具有一致的信噪比。与现有技术相比，解决了现有光谱仪测量范围有限的问题，扩大仪器的适用范围，提高光谱仪器的通用性；与现有光谱仪或采用不同的光源或取样器的技术方案相比，降低了成本，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱仪 亮度 校准 调节 测控 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
光谱仪亮度自校准调节测控系统，单色器(15)、取样器(17)及电源组成的反射式光谱仪或透射式光谱仪，其特征在于，光谱仪亮度自校准调节测控系统为光机电一体化的闭环控制结构，由光谱信号采集单元(9)、亮度自动校准控制单元(7)、光源可控稳流单元(13)和参比调节单元(16)四部分构成：亮度自动校准控制单元(7)分别连接参比调节单元(16)和光源可控稳流单元(13)，亮度自动校准控制单元(7)接收由光源可控稳流单元(13)发出的光信号经单色器(15)、取样器(17)再由光谱信号采集单元(9)转换的数字信号，根据该信号发出参比调节单元和光源可控稳流单元的控制信号，参比调节单元(16)接收亮度自动校准单元(7)的控制信号，根据该信号调节有效参比位置，电源分别与光谱信号采集单元(9)、亮度自动校准控制单元(7)、光源可控稳流单元(13)和参比调节单元(16)连接。
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