[发明专利]通过元素的测量强度和浓度计算被干扰元素浓度的方法

摘要

本发明公开了一种通过元素的测量强度和浓度计算被干扰元素浓度的方法，该方法包括以下两种校正模型：(1)谱线重叠校正模型：(2)谱线重叠‑自吸校正模型：本发明的有益效果是，分析精度高，稳定性好。

主权项

1.一种通过元素的测量强度和浓度计算被干扰元素浓度的方法，其特征在于，该方法包括以下两种校正模型：(1)谱线重叠校正模型：其中，I_i为被干扰元素的测量强度，I_c为被干扰元素没有干扰时的净强度，k_j为重叠干扰系数，C_ij为第I块标准样品第j个具有叠加干扰性质的干扰元素的浓度，m为同一块标准样品中可能的干扰元素的个数；(2)谱线重叠‑自吸校正模型：其中，I_i为被干扰元素的测量强度，I_c为被干扰元素没有干扰时的净强度，C_ij为第I块标准样品第j个具有自吸干扰性质的干扰元素的浓度，k_j＝1..m为自吸干扰系数；m为同一块标准样品中可能的叠加干扰元素的个数；C_il为第i个标准样品中第l个具有叠加干扰性质的干扰元素的浓度，p_l＝1..u为叠加干扰系数；所述谱线重叠校正模型的求解方法为：假设标准样品有n块，因此我们共有n组数据，根据加权最小二乘法，有：设I_c＝C_i*k₀，其中C_i为第i块标准样品被干扰元素的浓度，k₀为净信号时的系数，C_ij为第I块标准样品第j个干扰元素的浓度，k_j为重叠干扰校正系数，m为重叠干扰元素的个数，n为标准样品个数，则上式可写为：由于得可整理得到如下方程组：由上述式子分别求解出重叠干扰校正系数k₀、k₁、k₂..k_m，根据经典模型Conc＝A*I³+B*I²+C*I+D进行曲线拟合，求得曲线的拟合系数A、B、C、D，然后计算被干扰元素浓度和干扰元素的计算浓度，然后将计算出的干扰元素的浓度和被干扰元素的浓度代入谱线重叠校正模型求得每块样品被干扰元素的净信号强度I_c，再通过分析元素浓度的经典模型Conc＝A*I³+B*I²+C*I+D进行曲线拟 合，求得曲线的拟合系数A、B、C、D进而求得未知样品的被干扰元素浓度Conc；所述谱线重叠‑自吸校正模型的求解方法为：假设标准样品有n块，因此我们共有n组数据，根据加权最小二乘法，有设I_c＝C_i*k₀其中C_i是第i块标准样品被干扰元素的浓度，k₀为没有干扰时的重叠‑自吸校正系数，则上式可写为根据得可整理得如下方程组：通过递归算法，分别求解出系数k₀、k_1..m、p_1..u，根据经典模型Conc＝A*I³+B*I²+C*I+D进行曲线拟合，求得曲线的拟合系数A、B、C、D，然后计算被干扰元素浓度和干扰元素的计算浓度， 然后将计算出的干扰元素的浓度和被干扰元素的浓度代入谱线重叠‑自吸校正模型然后计算每块样品的被干扰元素的净信号强度I_c，再通过经典模型Conc＝A*I³+B*I²+C*I+D进行曲线拟合，求得曲线的拟合系数A、B、C、D进而求得 未知样品被干扰元素的浓度含量Conc。