[发明专利]一种测试芯片功能的系统和方法

摘要

本发明提出一种测试芯片功能的系统和方法，主要完成对芯片量产前进行的各种测试工作，确保芯片最初的设计功能已达到要求。本系统包括硬件测试平台和软件架构流程，硬件平台主要是提供整个测试系统的硬件测试环境，包括带有系统主控制器的主电路系统板、被测芯片所在的承载电路系统板。软件架构流程主要是提出一种软件流程机制，来控制各个测试例在硬件测试平台上的正常执行。

主权项

一种测试芯片功能的系统，包括计算机、主电路系统板和装有被测芯片的承载系统板，其中，主电路系统板包括：主控制器芯片，实现测试系统所需要的各种数字信号处理功能；模拟接口，用于与所述承载系统板的模拟接口相连，实现数据通讯；数字接口，用于与所述承载系统板的数字接口相连，实现数据通讯；数字模拟转换器，用于把从主控制器芯片输出的数字信号转换为模拟信号，通过模拟接口输出给承载系统板上的被测试芯片的模拟电路模块进行处理；模拟数字转换器，用于把从被测试芯片内部的模拟电路模块输出的模拟信号转换为数字信号，输入给主控制器芯片进行数据处理；与计算机通讯的接口，以便计算机与主控制器芯片交换数据和通讯；承载系统板包括：被测芯片；模拟接口和数字接口，用于分别与所述主电路系统板的模拟接口和数字接口联接，实现数据通讯，从而进行被测芯片的测试；与计算机通讯的接口，以便计算机能够与被测试芯片交换数据和通讯，向被测试芯片下载测试程序。