[发明专利]集成电路及其测试系统无效
| 申请号： | 201210259667.4 | 申请日： | 2012-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN103576072A | 公开（公告）日： | 2014-02-12 |
| 发明（设计）人： | 程智修;洪邦桢 | 申请（专利权）人： | 联咏科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种集成电路(Integrated Circuit)，包括输入单元、核心处理单元及M个输出缓冲单元，其中M为大于1的自然数。输入单元具有输出控制接脚，以接收输出控制信号。核心处理单元耦接至输入单元，以接收输出控制信号，以提供M个输出控制信号。M个输出缓冲单元耦接至核心处理单元，并分别响应于M个输出控制信号时分多工地为致能，以分别在M个操作期间中输出M个输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 及其 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：一输入单元，具有一输出控制接脚，用以接收一输出控制信号；一核心处理单元，耦接至该输入单元，用以接收该输出控制信号，并据以提供M个输出控制信号，M为大于1的自然数；以及M个输出缓冲单元，耦接至该核心处理单元，该M个输出缓冲单元分别响应于该M个输出控制信号，时分多工地为致能，以分别在M个操作期间中输出M个输出信号。
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