[发明专利]NAND Flash存储芯片的校验算法无效
| 申请号： | 201210251133.7 | 申请日： | 2012-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN102789817A | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 万籁民;韦献康;刘绍海 | 申请（专利权）人： | 百富计算机技术(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于NAND Flash存储芯片的校验算法领域，提供一种NANDFlash存储芯片的校验算法，根据写入每页数据的行列异或值、Hash值到Spare area区，通过读取的每页数据内容、Spare area区中的行列异或值、Spare area区中的Hash值，三者的运算结果进行错误数据的定位和纠错，能够保证纠正一位及两位错误和发现多位错误，从而确保存放在NAND Flash芯片内数据的完整性及准确性，起到减少文件系统崩溃的风险。 | ||
| 搜索关键词： | nand flash 存储 芯片 校验 算法 | ||
【主权项】：
一种NAND Flash存储芯片的校验算法，其特征在于，根据写入每页数据的行列异或值、Hash值到Spare area区，通过读取的每页数据内容、Spare area区中的行列异或值、Spare area区中的Hash值，三者的运算结果进行错误数据的定位和纠错。
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