[发明专利]记录芯片使用状态信息的方法、成像盒的芯片及成像盒有效
申请号: | 201210209303.5 | 申请日: | 2012-06-21 |
公开(公告)号: | CN102765256A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | 刘卫臣 | 申请(专利权)人: | 珠海艾派克微电子有限公司 |
主分类号: | B41J2/175 | 分类号: | B41J2/175;G03G21/18;B41J29/38 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 519075 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种记录芯片使用状态信息的方法、成像盒的芯片及成像盒。成像盒的芯片包括基板和设置在基板上的信息存储单元和控制单元,信息存储单元包括优先写入区域和常规读写区域,记录芯片使用状态信息的方法包括:当芯片接收到成像装置发送的读/写操作命令或芯片上的控制单元监控到通信干扰信号时,芯片上的控制单元更新优先写入区域中存储的芯片使用状态参数值,芯片使用状态参数值用于对芯片进行故障分析。成像盒包括上述成像盒的芯片。所记录的芯片使用状态参数值可以反映芯片本身的使用状态信息,为发现和解决芯片与成像装置之间的通信问题提供有力的资料。 | ||
搜索关键词: | 记录 芯片 使用 状态 信息 方法 成像 | ||
【主权项】:
一种记录芯片使用状态信息的方法,所述芯片包括基板和设置在所述基板上的信息存储单元和控制单元,所述信息存储单元包括优先写入区域,其特征在于,所述方法包括:当所述芯片接收到成像装置发送的读/写操作命令或所述芯片上的控制单元监控到通信干扰信号时,所述芯片上的控制单元更新所述优先写入区域中存储的芯片使用状态参数值,所述芯片使用状态参数值用于对芯片进行故障分析。
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