[发明专利]一种基于DM分解的闭环系统测点优化配置方法有效

专利信息
申请号: 201210205775.3 申请日: 2012-06-18
公开(公告)号: CN102736616A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 刘文静;王南华;王大轶;何英姿;邢琰;刘成瑞 申请(专利权)人: 北京控制工程研究所
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02;G05B13/04;G06F19/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 臧春喜
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于DM分解的闭环系统测点优化配置方法,首先建立闭环系统的定量模型,给出变量与变量、故障与变量之间的解析关系;其次将得到的解析关系利用偶邻近矩阵表示;然后利用DM分解技术对偶邻近矩阵进行分解获得变量之间的约束关系;最后根据变量约束关系得到使故障集合具有可检测性的最优测点集合、使单个故障fi具有最大可分离性的最优测点集合、使故障具有可分离性的最优测点集合。本发明保证在满足资源约束的情况下检测和分离尽可能多的故障,为卫星控制系统可诊断性设计提供依据。
搜索关键词: 一种 基于 dm 分解 闭环 系统 优化 配置 方法
【主权项】:
一种基于DM分解的闭环系统测点优化配置方法,其特征在于步骤如下:(1)建立闭环系统的定量模型,给出变量与变量、故障与变量之间的解析关系,闭环系统定量模型采用如下形式表示:e1∶x1=g1(x1,x2,…,xn)+h1(f1,f2,…,fm)e2∶x2=g2(x1,x2,…,xn)+h2(f1,f2,…,fm)   .           .                  .   .           .                  .   .           .                  .ek∶xk=gk(x1,x2,…,xn)+hk(f1,f2,…,fm)其中ei表示闭环系统定量模型中第i个等式,gi(x1,x2,…,xn)表示变量x1,x2,…,xn与变量xi之间的关系,hi(f1,f2,…,fm)表示故障f1,f2,…,fm与变量xi之间的关系,i=(1,2,......k),n为变量个数,m为故障个数;(2)将步骤(1)中得到的解析关系利用偶邻近矩阵表示,偶邻近矩阵的行为等式E={e1,e2,…,ek},列为变量X={x1,x2,…,xn},当变量xi存在于等式ej时,xi∈X,ej∈E,则偶邻近矩阵中的(ej,xi)为1,否则为0;(3)利用DM分解技术对步骤(2)得到的偶邻近矩阵进行分解获得变量之间的约束关系;(4)根据步骤(3)中变量约束关系得到使故障集合F={f1,f2,…,fm}具有可检测性的最优测点集合、使单个故障fi具有最大可分离性的最优测点集合,i∈(1,m)、使故障F={f1,f2,…,fm}具有可分离性的最优测点集合。
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