[发明专利]测量装置有效
申请号: | 201210202713.7 | 申请日: | 2012-06-15 |
公开(公告)号: | CN102824178A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 中川贵司 | 申请(专利权)人: | 爱科来株式会社 |
主分类号: | A61B5/145 | 分类号: | A61B5/145 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种测量装置。其中,测量时状态信息存储部(25a)与时间段对应地存储用于确定对测量对象进行预定的测量的测量时状态的多个测量时状态信息。测量处理部(26)执行对测量对象的测量。显示部(37)从多个测量时状态信息中,根据测量操作时机的时刻、或通过由测量处理部(26)执行测量而得到的处理结果,选择与测量操作时机对应的测量时状态信息,并在与其他测量时状态信息区别的状态下将所选择的测量时状态信息显示在显示器上。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种测量装置,其特征在于具有:测量时状态信息存储部,其与时间段对应地存储有多个测量时状态信息,该多个测量时状态信息用于确定对测量对象进行预定测量的测量时状态;测量处理部,其执行对所述测量对象的测量;以及显示部,其在执行用于对所述测量对象进行测量的操作的测量操作时机,根据所述测量操作时机的时刻或通过由所述测量处理部执行测量而得到的处理结果,从所述测量时状态信息存储部所存储的多个测量时状态信息中,选择与该测量操作时机对应的测量时状态信息,将所选择的测量时状态信息以与其他测量时状态信息区别开的状态显示在显示器上。
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