[发明专利]测试装置无效
| 申请号： | 201210187285.5 | 申请日： | 2012-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN103472321A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 周海清 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种测试装置，用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊，所述测试装置包括一发光二极管、第一及第二开关、第一及第二电阻及第一至第三接触元件，测试时，所述第一接触元件接触所述MOS管的漏极，所述第二接触元件接触所述MOS管的栅极，所述第三接触元件接触所述MOS管的源极，当所述MOS管为NMOS管时，闭合所述第一开关，当所述MOS管为PMOS管时，闭合所述第二开关，若所述发光二极管不发光，则表明所述MOS管存在虚焊和假焊；若所述发光二极管发光，则表明所述MOS管不存在虚焊和假焊。上述测试装置的测试结果准确且测试成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种测试装置，用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊，所述测试装置包括一发光二极管、第一及第二开关、第一及第二电阻及第一至第三接触元件，所述发光二极管的阳极与一电源相连，所述发光二极管的阴极通过所述第一电阻与所述第一接触元件相连，所述第一开关的一端通过所述第二电阻与所述电源相连，所述第一开关的另一端与所述第二接触元件相连，所述第二开关的一端与所述第一开关的另一端相连，所述第二开关的另一端接地，并与所述第三接触元件相连，测试时，所述第一接触元件接触所述MOS管的漏极与所述电路板上一第一电子元件之间的节点，所述第二接触元件接触所述MOS管的栅极与所述电路板上一第二电子元件之间的节点，所述第三接触元件接触所述MOS管的源极与所述电路板上一第三电子元件之间的节点，当所述MOS管为NMOS管时，闭合所述第一开关，当所述MOS管为PMOS管时，闭合所述第二开关，若所述发光二极管不发光，则表明所述MOS管存在虚焊和假焊；若所述发光二极管发光，则表明所述MOS管不存在虚焊和假焊。
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