[发明专利]一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法

摘要

本发明提出了一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法，包括：一种在子孔径拼接中计算重叠区域的权值的方法，此方法能正确反应各重叠区域在子孔径拼接中的可信度大小，噪声大的区域权值小，噪声小的区域权值大；在求解各子孔径的倾斜系数、平移系数时，要求重叠区域的加权残余误差的平方和最小。本发明通过计算不同重叠区域的权值和采用加权最小二乘法计算各子孔径的倾斜系数和平移系数，抑制了噪声对子孔径拼接的影响，提高了平面子孔径拼接的精度。

主权项

1.一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法，其特征在于步骤如下：（1）根据各子孔径的面形数据f_j(x,y)，计算各重叠区域的权值W_{l，m，x，y}；（2）根据步骤（1）中计算出的权值W_{l，m，x，y}，采用加权最小二乘法，即使得各重叠区域的加权残余误差平方和最小计算得到各子孔径的加权下的X方向的倾斜系数加权下的Y方向的倾斜系数和加权下轴向的平移系数如下式所示；其中，(x_i,y_i)为第l子孔径与第m子孔径的重叠区域中的第i个像素点的坐标，f_l(x_i,y_i)为像素点(x_i,y_i)在第l个子孔径中的面形数据，f_m(x_i,y_i)为像素点(x_i,y_i)在第m个子孔径中的面形数据，为在加权下的第l个子孔径的X方向倾斜系数，为在加权下的第l个子孔径的Y方向倾斜系数，为在加权下的第l个子孔径轴向的平移系数，为在加权下的第m个子孔径的X方向倾斜系数，为在加权下的第m个子孔径的Y方向倾斜系数，为在加权下的第m个子孔径轴向的平移系数，为各重叠区域的加权残余误差平方和，N_l,m为第l子孔径与第m子孔径的重叠区域的像素点总数，M代表总的子孔径数目，j＝1，2…M，代表子孔径序号，i＝1，2，...，N_l，m，为第l子孔径与第m子孔径的重叠区域中的像素点序号；（3）根据步骤（2）中得出的各子孔径的加权下的X方向的倾斜系数加权下的Y方向的倾斜系数和加权下的轴向的平移系数计算全孔径面形数据f(x,y)，方法如下式所示；