[发明专利]一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法有效

专利信息
申请号: 201210180322.X 申请日: 2012-06-04
公开(公告)号: CN102721374A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 徐富超;贾辛;谢伟民;邢廷文 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉;贾玉忠
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 加权 最小二乘法 平面 孔径 拼接 方法
【权利要求书】:

1.一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法,其特征在于步骤如下:

(1)根据各子孔径的面形数据fj(x,y),计算各重叠区域的权值Wl,m,x,y

(2)根据步骤(1)中计算出的权值Wl,m,x,y,采用加权最小二乘法,即使得各重叠区域的加权残余误差平方和最小计算得到各子孔径的加权下的X方向的倾斜系数加权下的Y方向的倾斜系数和加权下轴向的平移系数如下式所示;

其中,(xi,yi)为第l子孔径与第m子孔径的重叠区域中的第i个像素点的坐标,fl(xi,yi)为像素点(xi,yi)在第l个子孔径中的面形数据,fm(xi,yi)为像素点(xi,yi)在第m个子孔径中的面形数据,为在加权下的第l个子孔径的X方向倾斜系数,为在加权下的第l个子孔径的Y方向倾斜系数,为在加权下的第l个子孔径轴向的平移系数,为在加权下的第m个子孔径的X方向倾斜系数,为在加权下的第m个子孔径的Y方向倾斜系数,为在加权下的第m个子孔径轴向的平移系数,为各重叠区域的加权残余误差平方和,Nl,m为第l子孔径与第m子孔径的重叠区域的像素点总数,M代表总的子孔径数目,j=1,2…M,代表子孔径序号,i=1,2,...,Nl,m,为第l子孔径与第m子孔径的重叠区域中的像素点序号;

(3)根据步骤(2)中得出的各子孔径的加权下的X方向的倾斜系数加权下的Y方向的倾斜系数和加权下的轴向的平移系数计算全孔径面形数据f(x,y),方法如下式所示;

2.根据权利要求1所述的基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法,其特征在于:重叠区域的权值Wl,m,x,y是l,m,x,y的函数,Wl,m,x,y能反应相应重叠区域在拼接中的可信度大小,噪声大的区域权值小,噪声小的区域权值大。

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