[发明专利]一种正电子平均寿命分解方法

摘要

本发明涉及一个正电子平均寿命分解方法，包括以下步骤：先设定所研究材料体中的缺陷类型以及个数，根据待处理的正电子平均寿命值的大小以及对应的测量温度绘图，然后采用理论上计算所得到的正电子平均寿命的温度关系，构建简化的正电子平均寿命模型函数，再设定约束条件、通过最小二乘法原理，对实验测量的正电子平均寿命进行拟合，并输出结果。本发明不仅可以分解多个相关联缺陷的寿命谱，而且还可以得到缺陷的正电子捕获率、浓度等等物理量，对复杂缺陷体系的研究具有重要实用价值，同时本发明所提供的技术方案还具有良好的扩展性。

主权项

一种正电子平均寿命分解方法，其特征在于，包括以下的步骤：步骤1，根据用户所研究的材料样品的寿命的成分种数，确定缺陷体系，求解对应缺陷体系下理论上的正电子平均寿命温度关系，得到初始的拟合模型函数；   步骤2，优化及约束拟合模型函数，包括以下子步骤，步骤2.1，输入正电子平均寿命温度关系数据；步骤2.2，根据预设的寿命值参数，对步骤1所得理论上的正电子平均寿命温度关系进行简化，优化拟合模型函数；步骤2.3，输入预设的拟合条件，对步骤2.2中的拟合模型函数进行约束；步骤3，拟合并获取结果，包括以下子步骤，步骤3.1，根据步骤2优化及约束后的拟合模型函数，采用最小二乘法原理，对步骤2.1输入的正电子平均寿命温度关系数据进行拟合，根据拟合后所得的拟合模型函数生成最小二乘拟合曲线；步骤3.2，采用步骤3.1拟合后所得的拟合模型函数，提取拟合参数，根据预设的常温下缺陷捕获系数的大小，计算并输出最终结果。