[发明专利]光学防伪元件、使用该光学防伪元件的产品及其制备方法有效
| 申请号： | 201210174152.4 | 申请日： | 2012-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN102975568A | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 孙凯;王晓利;朱军;李欣毅;曲欣;张巍巍 | 申请（专利权）人： | 中钞特种防伪科技有限公司;中国印钞造币总公司 |
| 主分类号： | B44F1/12 | 分类号： | B44F1/12;G02B3/06 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;南毅宁 |
| 地址： | 100070 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明针对现有技术中难以对具有微图文和微透镜阵列的光学防伪元件中的微图文实现彩色化着色或者难以在生产中实现的缺陷，提供一种能够克服上述缺陷的光学防伪元件、使用该光学防伪元件的防伪产品及其制备方法。本发明提供的光学防伪元件包括基材，基材具有相互对立的第一表面和第二表面，所述第一表面上覆盖有微采样工具，所述第二表面的一部分为由微浮雕结构形成的微图文、另一部分为未形成微图文的平坦结构和/或与形成微图文的微浮雕结构不同的微浮雕结构，未形成微图文的平坦结构和与形成微图文的微浮雕结构不同的微浮雕结构上同形覆盖有第一镀层，形成微图文的微浮雕结构上同形覆盖有第二镀层，微采样工具对微图文进行采样。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 防伪 元件 使用 产品 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
一种光学防伪元件，该光学防伪元件包括基材，所述基材具有相互对立的第一表面和第二表面，所述第一表面上覆盖有微采样工具，所述第二表面的一部分为由微浮雕结构形成的微图文、另一部分为未形成微图文的平坦结构和/或为与形成微图文的微浮雕结构不同的微浮雕结构，未形成微图文的所述平坦结构和与形成微图文的微浮雕结构不同的微浮雕结构上同形覆盖有第一镀层，形成微图文的所述微浮雕结构上同形覆盖有第二镀层，所述微采样工具对所述微图文进行采样。
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