[发明专利]一种二维位移测量装置与测量方法无效

专利信息
申请号: 201210154779.3 申请日: 2012-05-18
公开(公告)号: CN102706248A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 高玉峰;邱月;黎冰;沙成明;郑翔 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 210098*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种二维位移测量装置与测量方法。该装置是由带刻度的方形测量杆、带刻度的第一滑块和第二滑块、带有细绳的小吊锤所制成。其测量方法的步骤为:(1)安装测量装置;(2)调节第一滑块和第二滑块的位置,使小吊锤下端尖部与被测物件测点恰好接触,分别记录第一滑块和第二滑块的读数;(3)当被测物件位置在测量杆轴线所处竖直平面内发生变化时,调整两滑块的位置,使小吊锤尖端与被测物件的测点相接触,记录两滑块的读数;(4)通过计算得出被测物件的水平位移和竖向位移。本发明的优点是:该测量装置结构简单,易于安装和拆卸;方形测量杆能够防止滑块在测量过程中发生定轴转动,提高了测量精度;制造和使用成本低,具有广泛的适用性。
搜索关键词: 一种 二维 位移 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种二维位移测量装置,其特征在于该装置由带刻度的测量杆(1)、带刻度的第一滑块(2)和第二滑块(3)、带有细绳的小吊锤(4)所制成;其中带刻度的测量杆(1)的末端固定在构件或墙体(7)上,第一滑块(2)和第二滑块(3)通过其上的凹槽分别套在测量杆(1)上,带有细绳的小吊锤(4)的细绳另一端分别穿过第一滑块(2)上的圆孔(5)和第二滑块(3)上的圆孔(6)后固定在第二滑块(3)上。
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