[发明专利]一种微波控制器件的测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201210150859.1 | 申请日： | 2012-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN102707707A | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 吴华夏;刘劲松;王华;窦增昌;汪伦源 | 申请（专利权）人： | 安徽华东光电技术研究所 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 241002 安徽省芜*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微波控制器件的测试系统及测试方法，属于微波集成电路领域，包括直流稳压电源、单片机控制电路、单端-差分信号转换电路、矢量网络分析仪、计算机，由单端-差分信号转换电路将MCU控制电路输出的单端TTL电压转换为差分电压信号，通过单片机控制电路来控制差分信号的通断，以此实现对控制器件的控制，并通过矢量网络分析仪来检测器件的性能。由计算机控制矢量网络分析仪来自动完成微波控制器件电参数的测试，同时可以通过修改程序来改变测试时间间隔和延迟，进而配合矢量网络分析仪进行有效测试，大大提高测试和检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 控制 器件 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种微波控制器件的测试系统，其特征是，包括直流稳压电源，为测试系统提供供电；单片机控制电路，控制单端‑差分信号转换电路中多个通道的通断；单端‑差分信号转换电路，将来自单片机控制电路的多个通道的单端TTL电压转换为互补的差分电压信号，并输入待测器件；矢量网络分析仪，与待测器件连接，测量待测器件的技术参数；计算机，向所述单片机控制电路发送测试指令。
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