[发明专利]一种微波控制器件的测试系统及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及到一种微波控制器件的测试系统及测试方法，尤其涉及一种移相、衰减等微波控制器件的测试方法，属于微波集成电路领域。

背景技术

在现代微波毫米波通信、卫星通信、有源相控阵雷达、测试仪表等系统电路中，微波控制器件都有着举足轻重的地位，其涉及移相、衰减、限幅等器件，主要用于对微波毫米波信号做相位调整、幅度变化、功率保护等处理，从而达到各类系统对其电路中微波毫米波信号特殊变化的目的。

目前国内用于微波电路的控制器件一般采用两路互补差分信号（0V/-5V）进行控制，若要对这类芯片进行性能检测，需要通过增加一些电平转换电路来实现，而且由于此类控制器件工作的特殊性，测试数据多，工作量大。以数控衰减器为例，常用数控衰减器为5位或者6位，所以在一个频率点下就共计需要测试2⁵（32）或者2⁶（64）个状态数据，因此，对这类芯片的性能检测需要付出很大的工作量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种微波控制器件的测试系统及测试方法，用于此类常用的微波控制器件的性能测试，降低测试工作量，提高测试效率。

为实现本发明的目的, 所采用的技术方案如下：

一种微波控制器件的测试系统，其特征是，包括

直流稳压电源，为测试系统提供供电；

单片机控制电路，控制单端-差分信号转换电路中多个通道的通断；

单端-差分信号转换电路，将来自单片机控制电路的多个通道的单端TTL电压转换为互补的差分电压信号，并输入待测器件； 

矢量网络分析仪，与待测器件连接，测量待测器件的技术参数；

计算机，向所述单片机控制电路发送测试指令。

由所述计算机控制整个测试系统的工作方式，可以选择单状态测试或全状态测试。

所述多个通道为6个通道。

6通道单端TTL电压转换为6通道互补的差分电压信号。

所述单端-差分信号转换电路中包含

电平转换芯片，将输入的单端TTL电压转换成两路相反的TTL电平，

两只三极管，将电平转换芯片输出的两路TTL电平转换为互补的差分电压信号。

所述单片机控制电路包含

与所述计算机连接的第一接口，

电平转换芯片，用于转换所述第一接口传送的计算机发出的测试指令，

单片机，接收所述电平转换芯片转换的数据。

所述单片机控制电路还包含

用于单片机程序写入的第二接口，

与所述直流稳压电源连接的第三接口，用于为单片机控制电路供电。

一种微波控制器件的测试方法，其特征是，包括以下步骤：

计算机向单片机控制电路发出测试指令，

单片机控制电路根据测试指令控制单端-差分信号转换电路中多个通道的通断，

单端-差分信号转换电路将来自单片机控制电路的单端TTL电压转换为互补的差分电压信号，并输入待测器件，

待测器件通过与其连接的矢量网络分析仪来检测自身的性能。

所述单端-差分信号转换电路将来自单片机控制电路的6通道TTL单端电压转换为6通道差分电压信号输出，每个通道电路中先将输入的单端TTL电压通过一电平转换芯片转换成两路反相的TTL电平，再通过两只三极管将两路TTL电平转换为互补的差分电压信号。

所述单片机控制电路通过另一电平转换芯片转换计算机发出的测试指令，并将转换的数据传送到单片机，由单片机输出控制信号。

本发明所达到的有益效果：

本发明的测试系统及测试方法由单端-差分信号转换电路将直流稳压电源输出的单端TTL电压（0V/5V）转换为差分电压信号（0V/-5V），通过单片机控制电路来控制差分信号的通断，以此实现对控制器件的控制，并通过矢量网络分析仪来检测器件的性能。由计算机控制矢量网络分析仪来自动完成微波控制器件电参数的测试，同时可以通过修改程序来改变测试时间间隔和延迟，进而配合矢量网络分析仪进行有效测试，大大提高测试和检测效率。

附图说明

图1 为本发明的微波控制器件的测试方法原理框图；

图2为图1中单端-差分转换电路原理图（图中只给出一个通道）；

图3 为图1中MCU控制电路原理图；

图中，1、直流稳压电源；2、MCU（单片机）控制电路；3、单端-差分转换电路；4、待测器件；5、矢量网络分析仪；6、PC（计算机）。

具体实施方式