[发明专利]用于探测X射线量子的方法和装置无效
| 申请号： | 201210141148.8 | 申请日： | 2012-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN102778688A | 公开（公告）日： | 2012-11-14 |
| 发明（设计）人： | R.F.舒尔茨;K.尚尼克 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;G21K4/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于探测X射线量子的方法，所述X射线量子在X射线管中产生并且入射到具有由产生测量信号的像素（P）组成的二维矩阵（10）的多像素X射线探测器（4），其中，在规定的时间间隔内产生测量信号的并且此外其位于由多个像素（P）组成的连续的集中的像素（P）由分析单元（6）分配给事件集（EC），并且其中，引入其测量信号以用于如下的位置的近似，在该位置处所述X射线量子与所述多像素X射线探测器（4）相互影响。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 射线 量子 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于探测X射线量子的方法，所述X射线量子在X射线管中产生并且入射到具有由产生测量信号的像素（P）组成的二维矩阵（10）的多像素X射线探测器（4），其中，在规定的时间间隔内产生测量信号的并且此外其位于由多个像素（P）组成的连续的集中的像素（P）由分析单元（6）分配给事件集（EC），并且其中，引入其测量信号以用于如下的位置的近似，在该位置处所述X射线量子与所述多像素X射线探测器（4）相互影响。
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