[发明专利]电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法有效
| 申请号： | 201210135131.1 | 申请日： | 2012-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN102680819A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 张瑾;仇志杰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电工研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 关玲 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种电力电子器件的加速寿命测试电路，其第一开关(K1)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第一开关(K1)的另一端与被测器件的栅极(G)相连。放电电阻(R1)的一端与被测器件的栅极(G)相连，放电电阻(R1)的另一端与被测器件的源极(S)相连。恒流测试电源的正极与被测器件的漏极(D)相连，恒流测试电源的负极与被测器件的源极(S)相连。失效判断电路的两个输入端分别与测试电源的正极和负极相连。第二开关(K2)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第二开关(K2)的另一端与恒流加热电源的正极相连，恒流加热电源的负极与被测器件的源极(S)相连。 | ||
| 搜索关键词： | 电力 电子器件 加速 寿命 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种电力电子器件的加速寿命测试电路，其特征在于，所述的测试电路包括第一开关(K1)、第二开关(K2)、放电电阻(R1)，恒流测试电源，失效判断电路和恒流加热电源；所述的第一开关(K1)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第一开关(K1)的另一端与被测器件的栅极(G)相连；所述的放电电阻(R1)的一端与被测器件的栅极(G)相连，放电电阻(R1)的另一端与被测器件的源极(S)相连；所述的恒流测试电源的正极与被测器件的漏极(D)相连，恒流测试电源的负极与被测器件的源极(S)相连；失效判断电路的两个输入端分别与测试电源的正极和负极相连；所述的第二开关(K2)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第二开关(K2)的另一端与恒流加热电源的正极相连，恒流加热电源的负极与被测器件的源极(S)相连。
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