[发明专利]电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法

权利要求书

1.一种电力电子器件的加速寿命测试电路，其特征在于，所述的测试电路包括第一开关(K1)、第二开关(K2)、放电电阻(R1)，恒流测试电源，失效判断电路和恒流加热电源；所述的第一开关(K1)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第一开关(K1)的另一端与被测器件的栅极(G)相连；所述的放电电阻(R1)的一端与被测器件的栅极(G)相连，放电电阻(R1)的另一端与被测器件的源极(S)相连；所述的恒流测试电源的正极与被测器件的漏极(D)相连，恒流测试电源的负极与被测器件的源极(S)相连；失效判断电路的两个输入端分别与测试电源的正极和负极相连；所述的第二开关(K2)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第二开关(K2)的另一端与恒流加热电源的正极相连，恒流加热电源的负极与被测器件的源极(S)相连。

2.根据权利要求1所述的电力电子器件的加速寿命测试电路，其特征在于，所述的失效判断电路检测被测器件内部芯片的导通压降，并将所述的导通压降转换为被测器件的结温，用于失效判断：当结温超出失效判定值，则器件失效，否则认为器件完好。

3.权利要求1所述的电力电子器件的加速寿命测试电路的测试方法，其特征在于，所述的测试方法的步骤如下：

第一步，闭合第一开关(K1)，断开第二开关(K2)，使被测器件处于临界饱和导通状态，此时仅测试电流(Im)流过被测器件；

第二步，保持第一开关(K1)闭合，再闭合第二开关(K2)，加热电流(Ih)及测试电流(Im)同时流过被测器件，使被测器件内部芯片结温上升；

第三步，加热过程持续至所述的芯片结温上升到设定值，然后断开第二开关(K2)，此时仅有测试电流(Im)流过被测器件；所述的失效判断电路将采集到的第二开关(K2)断开瞬间的被测器件导通压降转换为对应的芯片结温，如果此时芯片的结温超过失效判定值，失效判断电路将做出源极引线失效判断，否则失效判断电路认为源极引线完好；

第四步，源极引线失效判断完成后，断开第一开关(K1)；如果全部芯片的门极引线完好，第一开关(K1)闭合时注入的门极电荷将全部通过放电电阻(R1)释放，在此情况下，被测器件处于关断状态，测试电流(Im)流过被测器件将会产生一个无穷大的电压降，失效判断电路检测到这一无穷大电压，将做出所述的门极引线完好判断；如果门极引线脱落，门极上存储的电荷将无法通过放电电阻(R1)释放，因此断开第一开关(K1)无法关断被测器件中所有的功率半导体芯片，此种情况下，被测器件中门极引线脱落的芯片仍处于开通状态，测试电流(Im)流过被测器件会产生一个相对小的电压降，失效判断电路检测到这一电压，将做出门极引线失效判断；若上述步骤执行完毕，被测器件的源极和门极引线均未出现失效，则重复以上步骤，直至出现失效或达到设定的测试循环数后终止。