[发明专利]用于真空电子器件的强流电子注能散测量系统及测量方法有效

专利信息
申请号: 201210132372.0 申请日: 2012-04-28
公开(公告)号: CN103377864A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 阮存军;吴迅雷;李庆生;李崇山;李彦峰 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: H01J37/244 分类号: H01J37/244
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种强流电子注能散测量系统,包括真空腔体、二极铁电磁体、双狭缝铜体、YAG探测器和CCD图像采集器。真空腔体是扁平的且横截面呈矩形,其纵向与水平面平行;二极铁电磁体的两极分别安装在真空腔体的上下两面,以在真空腔体内产生垂直于水平面的均匀磁场;双狭缝铜体安装在真空腔体的内部,用于将强流电子注变成弱流电子注,并准直进入真空腔体;电子YAG探测器位于双狭缝铜体出射的电子注流偏转90度的方向上,用于探测电子注空间密度分布;CCD图像采集器用于捕捉YAG探测器上生成的电子能散图像。本发明可以测量几百至100k电子伏能量、导流系数在0.1至十几微朴的强流电子注的能散相对分辨率与能散曲线。
搜索关键词: 用于 真空 电子器件 流电 子注能散 测量 系统 测量方法
【主权项】:
一种强流电子注能散测量系统,其特征在于,包括一个真空腔体(101)、一个二极铁电磁体(201)、一个双狭缝铜体(301)、一个YAG探测器(401)和一个CCD图像采集器(501);所述真空腔体(101)是一个扁平的且横截面呈矩形的真空腔体,其纵向与水平面平行,且由无磁金属材料制成,内部真空度为1×10‑6Pa数量级;所述二极铁电磁体(201)的两极分别安装在所述真空腔体(101)的上下两面,以在所述真空腔体(101)内产生垂直于水平面的均匀磁场;所述双狭缝铜体(301)安装在所述真空腔体(101)的内部,由无氧铜制成,用于将强流电子注变成弱流电子注,并准直进入真空腔体(101);所述电子YAG探测器(401)位于所述双狭缝铜体(301)出射的电子注流偏转90度的方向上,其由掺入Ce元素的晶体制成,用于探测电子注空间密度分布;所述CCD图像采集器(501)位于正对着YAG探测器(401)的随动平台(9)上,用于捕捉YAG探测器(401)上生成的电子能散图像。
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