[发明专利]用于真空电子器件的强流电子注能散测量系统及测量方法有效
| 申请号: | 201210132372.0 | 申请日: | 2012-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN103377864A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
| 发明(设计)人: | 阮存军;吴迅雷;李庆生;李崇山;李彦峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号: | H01J37/244 | 分类号: | H01J37/244 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种强流电子注能散测量系统,包括真空腔体、二极铁电磁体、双狭缝铜体、YAG探测器和CCD图像采集器。真空腔体是扁平的且横截面呈矩形,其纵向与水平面平行;二极铁电磁体的两极分别安装在真空腔体的上下两面,以在真空腔体内产生垂直于水平面的均匀磁场;双狭缝铜体安装在真空腔体的内部,用于将强流电子注变成弱流电子注,并准直进入真空腔体;电子YAG探测器位于双狭缝铜体出射的电子注流偏转90度的方向上,用于探测电子注空间密度分布;CCD图像采集器用于捕捉YAG探测器上生成的电子能散图像。本发明可以测量几百至100k电子伏能量、导流系数在0.1至十几微朴的强流电子注的能散相对分辨率与能散曲线。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 真空 电子器件 流电 子注能散 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
一种强流电子注能散测量系统,其特征在于,包括一个真空腔体(101)、一个二极铁电磁体(201)、一个双狭缝铜体(301)、一个YAG探测器(401)和一个CCD图像采集器(501);所述真空腔体(101)是一个扁平的且横截面呈矩形的真空腔体,其纵向与水平面平行,且由无磁金属材料制成,内部真空度为1×10‑6Pa数量级;所述二极铁电磁体(201)的两极分别安装在所述真空腔体(101)的上下两面,以在所述真空腔体(101)内产生垂直于水平面的均匀磁场;所述双狭缝铜体(301)安装在所述真空腔体(101)的内部,由无氧铜制成,用于将强流电子注变成弱流电子注,并准直进入真空腔体(101);所述电子YAG探测器(401)位于所述双狭缝铜体(301)出射的电子注流偏转90度的方向上,其由掺入Ce元素的晶体制成,用于探测电子注空间密度分布;所述CCD图像采集器(501)位于正对着YAG探测器(401)的随动平台(9)上,用于捕捉YAG探测器(401)上生成的电子能散图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210132372.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。





