[发明专利]测试装置及对应的测试方法在审
| 申请号： | 201210122338.5 | 申请日： | 2012-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN102638263A | 公开（公告）日： | 2012-08-15 |
| 发明（设计）人： | 索鑫 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种测试装置及测试方法，所述测试装置包括：所述信号输入装置，用于产生数字向量，并将所述数字向量存储到存储器测试装置中的第一存储器单元中；所述存储器测试装置将所述第一存储器单元中的数字向量通过所述D/A转换器转换为模拟信号，并将所述模拟信号发送给A/D转换器；所述A/D转换器将所述模拟信号转换成数字信号，并存储在所述存储器测试装置的第二存储器单元中；所述测试单元对第二存储器单元中的数字信号进行处理测试出待测试转换器的性能参数，判断待测试转换器是否符合技术要求。所述测试装置利用存储器测试装置来对A/D转换器、D/A转换器进行测试，扩展了存储器测试装置的适用范围，且测试方法简单。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 对应 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，其特征在于，包括：信号输入装置、存储器测试装置、D/A转换器、A/D转换器、测试单元，所述存储器测试装置包括第一存储器单元和第二存储器单元，所述D/A转换器、A/D转换器其中一个为标准转换器，另一个为待测试转换器；所述信号输入装置用于产生数字向量，并将所述数字向量存储到存储器测试装置中的第一存储器单元中；所述存储器测试装置将所述第一存储器单元中的数字向量通过D/A转换器转换为模拟信号，并将所述模拟信号发送给A/D转换器；所述A/D转换器将所述模拟信号转换成数字信号，并存储在所述存储器测试装置的第二存储器单元中；所述测试单元对第二存储器单元中的数字信号进行处理测试出待测试转换器的性能参数，将所述待测试转换器的性能参数与标准的测量参数进行比较，判断待测试转换器是否符合技术要求。
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