[发明专利]基于X荧光光谱的铁矿石中二价铁的分析方法无效

专利信息
申请号: 201210118105.8 申请日: 2012-04-20
公开(公告)号: CN102636509A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 应海松;张建波;林力;陈贺海 申请(专利权)人: 中华人民共和国北仑出入境检验检疫局
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 代理人: 程晓明;蔡菡华
地址: 315800 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于X荧光光谱的铁矿石中二价铁的分析方法,包括以下步骤:1)选取FeO和Fe2O3按不同的比例依次混合后得到多个混合标样,用X射线荧光光谱仪对所有的试样依次进行扫描测量,将测量数据导入到电脑中的Matlab小波软件,选择haar小波对36.24°的Lβ1线和37.22°的Lα1一次线进行解谱分析,分别得到FeO含量与Lβ1线的关系曲线和FeO含量与Lα1线的关系曲线作为各自的工作曲线,将未知FeO含量的铁矿石样品进行扫描测量,得到的数据与各自的工作曲线比对,即得铁矿石样品的FeO含量,优点在于用小波分析解析铁矿中铁的X荧光谱峰,将二价铁从二价铁与三价铁的重叠峰中分离出来,可以避免原先湿法分析FeO含量的繁琐步骤,速度快,方法精密度好。
搜索关键词: 基于 荧光 光谱 铁矿石 二价 分析 方法
【主权项】:
一种基于X荧光光谱的铁矿石中二价铁的分析方法,其特征在于包括以下步骤:1)选取FeO和Fe2O3按不同的比例依次混合后得到多个混合标样,将混合标样研磨以便充分混匀,以硼砂作为衬底,压制成片状试样,用X射线荧光光谱仪对所有的试样依次进行扫描测量;2)在电脑上安装Matlab小波软件,将X射线荧光光谱仪测量得到的数据导入到电脑中的Matlab小波软件,选择haar小波对36.24°的Lβ1线和37.22°的Lα1一次线进行解谱分析,用坐标定位工具分别对解谱后的Lβ1线和Lα1线左右最近的峰定位并读取峰高值,依次导入所有试样的数据,即得到不同的FeO含量与Lβ1线和Lα1线峰高值的对应关系;3)根据步骤2)中得到的对应关系,分别得到FeO含量与Lβ1线的关系曲线和FeO含量与Lα1线的关系曲线作为各自的工作曲线;4)将未知FeO含量的铁矿石样品用X射线荧光光谱仪进行扫描测量,测量得到的数据导入到电脑中的Matlab小波软件,经haar小波分解后的的Lβ1线或Lα1与各自的工作曲线比对,即得铁矿石样品的FeO含量。
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