[发明专利]一种基坑工程中测点的水平位移监测方法无效
| 申请号： | 201210103568.7 | 申请日： | 2012-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN102628281A | 公开（公告）日： | 2012-08-08 |
| 发明（设计）人： | 贺跃光;吴盛才;徐鹏;徐卓揆;高鹏 | 申请（专利权）人： | 长沙理工大学 |
| 主分类号： | E02D33/00 | 分类号： | E02D33/00 |
| 代理公司： | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人： | 黄美成 |
| 地址： | 410114 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基坑工程中测点的水平位移监测方法，其特征在于，先设定M点和N点为基坑水平位移观测的基准点，在MN连线上的某点A架设全站仪，A点即为站点；则任一观测点i的水平位移值为：Δi＝Ki1·Δβi+Ki2·ΔA；本发明的基坑工程中测点的水平位移监测方法，可自由设站，与以往方法相比，更具有灵活性，现场操作也极其简单，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基坑 工程 中测点 水平 位移 监测 方法 | ||
【主权项】：
一种基坑工程中测点的水平位移监测方法，其特征在于，先设定M点和N点为基坑水平位移观测的基准点，在MN连线上的某点A架设全站仪，A点即为站点；则任一观测点i的水平位移值为：Δi＝Ki1·Δβi+Ki2·ΔA；其中，ΔA为站点水平位移值，ΔA＝KA·Δβa；其中，第一系数 K A = S MA · S NA S MA + S NA · 1 ρ , 第二系数 K i 1 = S iA ρ , 第三系数 K i 2 = S iA S MA - 1 ; Δβi为∠MAi的角度变化值；Δβa为∠MAN的角度变化值；SMA为A点到M点的距离；SNA为A点到N点的距离；ρ＝206265″；(ρ为测绘专业中的一个常数)SiA——A点到i点的距离；观测点i为位于MN连线外的点。
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