[发明专利]光学式位置检测装置、受光单元及带输入功能的显示系统无效

专利信息
申请号: 201210100335.1 申请日: 2012-04-05
公开(公告)号: CN102854509A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 中西大介 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01S17/06 分类号: G01S17/06;G09F9/30;G02B27/18
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及光学式位置检测装置、受光单元以及带输入功能的显示系统。在光学式位置检测装置中,受光部接受被位于检测光沿XY平面以放射状射出的检测对象空间的对象物体反射后的检测光。受光部具备受光元件与凹面镜,凹面镜的反射面的第1剖面(XY剖面)为圆弧,与第1剖面正交的第2剖面(YZ剖面)为二次曲线。因此,在XY面内方向,即使是相对于受光部从斜方向入射的光,也被凹面镜反射而到达受光元件,但在YZ面内方向,到达受光元件的范围被凹面镜限制。
搜索关键词: 光学 位置 检测 装置 单元 输入 功能 显示 系统
【主权项】:
一种光学式位置检测装置,其特征在于,是检测对象物体的位置的光学式位置检测装置,具有:光源部,其射出检测光;受光部,其接受被上述对象物体反射来的上述检测光的反射光;和位置检测部,其基于上述受光部中的受光结果,检测上述对象物体的位置;上述受光部具有:凹面镜,其具备第1剖面为圆弧、与上述第1剖面正交的第2剖面为二次曲线的反射面;和受光元件,其在相对上述第1剖面的俯视下位于上述圆弧的中心,且在相对上述第2剖面的俯视下位于上述二次曲线的对称轴上。
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