[发明专利]光学式位置检测装置、受光单元及带输入功能的显示系统无效
申请号: | 201210100335.1 | 申请日: | 2012-04-05 |
公开(公告)号: | CN102854509A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 中西大介 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G01S17/06 | 分类号: | G01S17/06;G09F9/30;G02B27/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;李洋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 位置 检测 装置 单元 输入 功能 显示 系统 | ||
1.一种光学式位置检测装置,其特征在于,
是检测对象物体的位置的光学式位置检测装置,具有:
光源部,其射出检测光;
受光部,其接受被上述对象物体反射来的上述检测光的反射光;和
位置检测部,其基于上述受光部中的受光结果,检测上述对象物体的位置;
上述受光部具有:
凹面镜,其具备第1剖面为圆弧、与上述第1剖面正交的第2剖面为二次曲线的反射面;和
受光元件,其在相对上述第1剖面的俯视下位于上述圆弧的中心,且在相对上述第2剖面的俯视下位于上述二次曲线的对称轴上。
2.根据权利要求1所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
上述受光元件位于上述二次曲线的中心。
3.根据权利要求1或2所述的光学式位置检出装置,其特征在于,
上述二次曲线是圆弧。
4.根据权利要求3所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
上述第2剖面的圆弧的曲率半径比上述第1剖面的圆弧的曲率半径小。
5.根据权利要求1或2所述的光学式位置,其特征在于,
上述二次曲线是抛物线。
6.一种光学式位置检测装置,其特征在于,
是检测对象物体的位置的光学式位置检测装置,具有:
光源部,其射出检测光;
受光部,其接受被上述对象物体反射来的上述检测光的反射光;和
位置检测部,其基于上述受光部中的受光结果,检测上述对象物体的位置;
上述受光部具有:
凹面镜,其通过第1剖面为圆弧、与上述第1剖面正交的第2剖面为直线的反射面沿上述第1剖面的法线排列多个而构成;和
受光元件,其在相对上述第1剖面的俯视下位于多个上述反射面的上述圆弧的中心;
上述反射面的法线与上述第1剖面所成的角随着沿上述第1剖面的法线从上述受光元件远离而变大。
7.一种受光单元,其特征在于,具有:
凹面镜,其具备第1剖面为圆弧、与上述第1剖面正交的第2剖面为二次曲线的反射面;和
受光元件,其在相对上述第1剖面的俯视下位于上述圆弧的中心,且在相对上述第2剖面的俯视下位于上述二次曲线的对称轴上。
8.根据权利要求7所述的受光单元,其特征在于,
上述受光元件位于上述二次曲线的中心。
9.根据权利要求7或8所述的受光单元,其特征在于,
上述二次曲线是圆弧。
10.根据权利要求9所述的受光单元,其特征在于,
上述第2剖面的圆弧的曲率半径比上述第1剖面的圆弧的曲率半径小。
11.根据权利要求7或8所述的受光单元,其特征在于,
上述二次曲线是抛物线。
12.一种受光单元,其特征在于,具有:
凹面镜,其通过第1剖面为圆弧、与上述第1剖面正交的第2剖面为直线的反射面沿上述第1剖面的法线排列多个而构成;和
受光元件,其在相对上述第1剖面的俯视下位于多个上述反射面的上述圆弧的中心;
上述反射面的法线与上述第1剖面所成的角随着沿上述第1剖面的法线从上述受光元件远离而变大。
13.一种带输入功能的显示系统,其特征在于,具有:
光源部,其射出检测光;
受光部,其接受被对象物体反射来的上述检测光的反射光;
位置检测部,其基于上述受光部中的受光结果,检测上述对象物体的位置;和
显示部,其基于上述位置检测部中的上述对象物体的位置检测结果,切换显示面所显示的图像;
上述受光部具有:
凹面镜,其具备第1剖面为圆弧、与上述第1剖面正交的第2剖面为二次曲线的反射面;和
受光元件,其在相对上述第1剖面的俯视下位于上述圆弧的中心,且在相对上述第2剖面的俯视下位于上述二次曲线的对称轴上。
14.根据权利要求13所述的带输入功能的显示系统,其特征在于,
上述受光元件位于上述二次曲线的中心。
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