[发明专利]带辅助线条的双层衰减相移接触孔掩模衍射场的计算方法有效
申请号: | 201210099581.X | 申请日: | 2012-04-06 |
公开(公告)号: | CN102654729A | 公开(公告)日: | 2012-09-05 |
发明(设计)人: | 李艳秋;杨亮 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G03F1/32 | 分类号: | G03F1/32 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 李爱英;杨志兵 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种带SRAF的双层衰减相移接触孔掩模衍射场的计算方法,具体步骤为:步骤一、设定x方向上保留的谐波数为Lx,设定y方向上保留的谐波数为Ly;步骤二、根据布洛开条件,求解第(m,n)个衍射级次的波矢量沿着切向、法向的分量;步骤三、针对双层衰减相移接触孔掩模的每一个二维光栅层,对其介电常数和介电常数倒数分别进行Fourier级数展开;步骤四、根据步骤二中及步骤三中计算出的参数求解每层光栅的特征矩阵,根据电磁场切向连续边界条件,利用增强透射矩阵法求解出射区域的衍射场,采用本发明能快速求解得到带辅助线条的双层衰减相移接触孔掩模的衍射场。 | ||
搜索关键词: | 辅助 线条 双层 衰减 相移 接触 孔掩模 衍射 计算方法 | ||
【主权项】:
1.一种带SRAF的双层衰减相移接触孔掩模衍射场的计算方法,其特征在于,具体步骤为:步骤一、设定x方向上保留的谐波数为Lx,设定y方向上保留的谐波数为Ly;步骤二、根据布洛开条件,求解第(m,n)个衍射级次的波矢量沿着切向、法向的分量,其中m为取遍[-Dx,Dx]之间的整数,n为取遍[-Dy,Dy]之间的整数,Lx=2Dx+1,Ly=2Dy+1;波矢量沿着切向即x、y轴的分量αm、βm为α m = α 0 - 2 πm / Λ x β n = β 0 - 2 πn / Λ y - - - ( 1 ) ]]> α0=nIksinθcosδ,β0=nIksinθsinδ (2)其中k是入射光波在真空中的波矢量,nI是入射区的折射率,θ是光波的入射角,δ为光波的方位角,Λx为掩模沿x方向的周期,Λy为掩模沿y方向的周期;波矢量沿着光栅平面的法向即z轴的分量r(m,n)、t(m,n)为:r ( m , n ) = [ ( n I k ) 2 - α m 2 - β n 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 ≤ ( n I k ) 2 - j [ α m 2 + β n 2 - ( n I k ) 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 > ( n I k ) 2 - - - ( 3 ) ]]>t ( m , n ) = [ ( n II k ) 2 - α m 2 - β n 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 ≤ ( n II k ) 2 - j [ α m 2 + β n 2 - ( n II k ) 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 > ( n II k ) 2 - - - ( 4 ) ]]> 其中下标I表示入射区,nI表示入射区的折射率,下标II表示出射区,nII表示出射区的折射率,j表示虚数单位;步骤三、针对双层衰减相移接触孔掩模的每一个二维光栅层,对其介电常数和介电常数倒数分别进行Fourier级数展开;介电常数的Fourier展开式为:ϵ L ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ L , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( L = 1,2 ) - - - ( 5 ) ]]> 介电常数倒数的Fourier展开式为:1 / ϵ L ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ξ L , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( L = 1,2 ) - - - ( 6 ) ]]> 其中![]()
εL(x,y)为第L层光栅的介电常数,βL,(p,q)为第L层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量,ξL,(p,q)为第L层光栅相对介电常数倒数的第(p,q)个Fourier分量;步骤四、根据步骤二中计算的αm、βn、r(m,n)、t(m,n)以及步骤三中计算的εL,(p,q)、ξL,(p,q)求解每层光栅的特征矩阵,根据电磁场切向连续边界条件,利用增强透射矩阵法求解出射区域的衍射场。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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