[发明专利]电容性传感器、集成电路、电子设备和方法有效
申请号: | 201210093254.3 | 申请日: | 2012-03-31 |
公开(公告)号: | CN102735716A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 菲特·恩古耶恩;罗埃尔·达门;阿克塞尔·纳克尔特斯;帕斯卡尔·贝思肯 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | G01N27/22 | 分类号: | G01N27/22 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明公开了一种用于感测关注分析物的传感器(100,200),该传感器包括多个电容性元件(120),每个电容性元件包括被电介质(124)隔开的一对电极(122,126),其中至少一个电容性元件的电介质的介电常数对关注分析物敏感,该传感器还包括:比较器(130,230),适于将选定的电容性元件集合与参考信号比较以产生比较结果信号;以及控制器(150,250),用于响应于所述比较结果信号来迭代地选择电容性元件集合,其中传感器被布置为产生对感测到的关注分析物的等级加以指示的数字化输出信号。本发明还公开了一种包括这种传感器的IC,一种包括这种IC的电子设备,以及一种利用这种传感器来确定关注分析物的等级的方法。 | ||
搜索关键词: | 电容 传感器 集成电路 电子设备 方法 | ||
【主权项】:
一种用于感测关注分析物的传感器(100,200),所述传感器包括多个电容性元件(120),每个电容性元件包括被电介质(124)隔开的一对电极(122,126),其中至少一个电容性元件的电介质的介电常数对关注分析物敏感,所述传感器还包括:比较器(130,230),适于将选定的电容性元件集合与参考信号比较并产生比较结果信号,以及控制器(150,250),用于选择所述电容性元件集合,并响应于所述比较结果信号来迭代地更新对感测的关注分析物的等级加以指示的数字化值,其中所述传感器被布置为在完成迭代时输出所述数字化值。
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