[发明专利]多散射体环境下短波复合场测试方法有效

专利信息
申请号: 201210089483.8 申请日: 2012-03-30
公开(公告)号: CN102621423A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 张崎;洪伟宏;宋东安;奚秀娟;陈亮 申请(专利权)人: 中国舰船研究设计中心
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 王丹
地址: 430064 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种多散射体环境下短波复合场测试方法,根据复合场的能量叠加关系,提出了复合频率组合方法,确保复合场测量是在模拟最大射频环境中进行;针对金属物体在电磁环境中的谐振效应,采用两种测试方法捕获短波复合电磁环境对电大尺寸金属平面上敏感金属装置综合电磁效应,将较大的值作为评估敏感金属装置电磁环境适应性的外部电磁环境值;为敏感金属装置提供了客观外部环境的依据,弥补了这一领域的空白,为短波复合电磁环境的测试和评估奠定了基础。
搜索关键词: 散射 环境 短波 复合 测试 方法
【主权项】:
一种多散射体环境下短波复合场测试方法,其特征在于:它包括以下步骤:1)根据短波天线的布局特点和电大尺寸金属平面上敏感金属装置所处的位置,确定短波复合电磁环境与敏感金属装置效应试验的天线组合方案;2)选取敏感金属装置的中心点作为测试点,参与复合场测试的短波天线分别工作,测量测试点的频响曲线,即对应每个工作频率的电场强度;依据不同天线发射时获得的测试点频响曲线,选取每副发射天线最大电场强度值对应的工作频率,作为形成敏感金属装置中心点处最大复合电磁环境的发射天线工作频率;将敏感金属装置整体置于测试区域内,按照上述频率组合,进行短波空间最大复合电磁环境下,敏感金属装置整体效应试验,测量敏感金属装置在上述短波空间最大复合电磁环境下,敏感金属装置中各敏感附件的电场强度;3)选取敏感金属装置上各敏感部位作为测试点,并将敏感金属装置整体置于测试区域内,参与复合场测试的短波天线分别工作,测量各个测试点的频响曲线;依据不同天线发射时获得的测试点频响曲线,选取每副发射天线最大电场强度值对应的工作频率,作为敏感金属装置各敏感部位最大复合电磁环境试验的测试频率,测量敏感金属装置各敏感部位的复合电场强度;4)比较敏感金属装置各敏感部位在步骤2)和3)两种电磁环境下测量的电场强度值,将较大的值作为评估敏感金属装置电磁环境适应性的外部电磁环境值。
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