[发明专利]多散射体环境下短波复合场测试方法

权利要求书

1.一种多散射体环境下短波复合场测试方法，其特征在于：它包括以下步骤：

1）根据短波天线的布局特点和电大尺寸金属平面上敏感金属装置所处的位置，确定短波复合电磁环境与敏感金属装置效应试验的天线组合方案；

2）选取敏感金属装置的中心点作为测试点，参与复合场测试的短波天线分别工作，测量测试点的频响曲线，即对应每个工作频率的电场强度；

依据不同天线发射时获得的测试点频响曲线，选取每副发射天线最大电场强度值对应的工作频率，作为形成敏感金属装置中心点处最大复合电磁环境的发射天线工作频率；

将敏感金属装置整体置于测试区域内，按照上述频率组合，进行短波空间最大复合电磁环境下，敏感金属装置整体效应试验，测量敏感金属装置在上述短波空间最大复合电磁环境下，敏感金属装置中各敏感附件的电场强度；

3）选取敏感金属装置上各敏感部位作为测试点，并将敏感金属装置整体置于测试区域内，参与复合场测试的短波天线分别工作，测量各个测试点的频响曲线；

依据不同天线发射时获得的测试点频响曲线，选取每副发射天线最大电场强度值对应的工作频率，作为敏感金属装置各敏感部位最大复合电磁环境试验的测试频率，测量敏感金属装置各敏感部位的复合电场强度；

4）比较敏感金属装置各敏感部位在步骤2）和3）两种电磁环境下测量的电场强度值，将较大的值作为评估敏感金属装置电磁环境适应性的外部电磁环境值。

2.根据权利要求1所述的多散射体环境下短波复合场测试方法，其特征在于：所述的步骤2）在保证每副发射天线调谐状态不变的情况下，测量每副天线按照所选取的测试频率单独发射时测试点的电场强度，即单场；依据单场和复合场的关系式，分析复合场测试值与计算值之间的差异，判别复合场测试值是否在置信区间内，不在置信区间内，则需要重复本步骤。

3.根据权利要求1所述的多散射体环境下短波复合场测试方法，其特征在于：所述的步骤3）每副发射天线选取的工作频率互不相同，若两副发射天线最大电场强度值对应的工作频率相同，则其中一副天线选取的工作频率须偏移至少5%。

4.根据权利要求1所述的多散射体环境下短波复合场测试方法，其特征在于：所述的步骤3）在保证每副发射天线调谐状态不变的情况下，测量每副天线按照选取的测试频率单独发射时测试点的电场强度，即单场；依据单场和复合场的关系式，分析复合场测试值与计算值之间的差异，判别复合场测试值是否在置信区间内，若不在置信区间内，则需要重复本步骤。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的多散射体环境下短波复合场测试方法，其特征在于：测量测试点的电场强度时，采用场点固定测量方法，避免测量位置微量变化对复合场测试数据的影响；对每个测试点，待发射机工作状态稳定后，15秒内连续采样，将15秒内的峰值作为该测点的电场强度，以减小电流的滞后效应。

6.根据权利要求2或4所述的多散射体环境下短波复合场测试方法，其特征在于：所述的单场和复合场关系式为

，

其中为副短波天线同时工作形成的复合电场强度，是第副天线工作形成的电场强度。