[发明专利]一种光栅对位拼接方法有效
| 申请号： | 201210084513.6 | 申请日： | 2012-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN102540305A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 魏厚伟;高洪跃 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨朗视科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G02B5/18 | 分类号： | G02B5/18 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 张果瑞 |
| 地址： | 150036 黑龙江省哈尔滨*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种光栅对位拼接方法，属于光学领域，本发明为解决现有借助凹光栅对两个柱透镜光栅进行接接的方法误差大的问题。本发明所述一种光栅对位拼接方法，该方法为：将待拼接的n片光栅共同放置在测试条形图上，以其中一片光栅作为基准光栅，所述测试条形图在所述基准光栅上形成基准干涉条纹，分别移动及旋转其它n-1片待拼接的光栅，使得测试条形图在其它n-1片待拼接光栅上形成拼接干涉条纹，当所有拼接干涉条纹均与基准干涉条纹的粗细一致，且所有拼接干涉条纹的延长线与对应位置的基准干涉条纹的延长线在同一直线上时，完成n片光栅的对位拼接，本发明用于多个光栅的拼接。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光栅 对位 拼接 方法 | ||
【主权项】：
一种光栅对位拼接方法，其特征在于，该方法为：将待拼接的n片光栅共同放置在测试条形图上，以其中一片光栅作为基准光栅，所述测试条形图在所述基准光栅上形成基准干涉条纹，分别移动及旋转其它n‑1片待拼接的光栅，使得测试条形图在其它n‑1片待拼接光栅上形成拼接干涉条纹，当所有拼接干涉条纹均与基准干涉条纹的粗细一致，且所有拼接干涉条纹的延长线与对应位置的基准干涉条纹的延长线在同一直线上时，完成n片光栅的对位拼接，其中，n为大于或等于2的自然数。
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