[发明专利]一种双波段探测器及利用双波段探测器的过采样探测方法有效
| 申请号： | 201210058493.5 | 申请日： | 2012-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN102540273A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 周峰;吴立民;张文昱;刘兆军;张涛;张寅生;胡斌;王彬;刘义良;苏云;龙亮 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100076*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双波段探测器，包括平行安装于探测器基板上的短波探测器和中波探测器，短波探测器或中波探测器中的探测器芯片分别分为两行，并以品字形交错排列。短波探测器或中波探测器的探测芯片中均具有2组沿推扫方向前后排列的像元，每组像元按N行M列的矩阵形式排列；第一组第N行像元与第二组第1行像元的间距为像元宽度的整数倍。同时公开了一种过采样探测方法，包括根据设定的曝光频率对探测器芯片进行曝光实现对目标过采样的步骤、利用得到的曝光图像进行重组获得目标图像数据的步骤。采用本发明设备和过采样探测方法可以在对点源弱目标进行探测时，实现对所成图像的过采样的双波段探测，为获取更加精确获取点源弱目标提供了必要条件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波段 探测器 利用 采样 探测 方法 | ||
【主权项】：
一种双波段探测器，包括探测器基板，其特征在于还包括：平行安装于探测器基板上的短波探测器和中波探测器，所述短波探测器或中波探测器中的探测器芯片分别分为两行，并以品字形交错排列；所述短波探测器或中波探测器的探测芯片中均具有2组沿推扫方向前后排列的像元，每组像元按N行M列的矩阵形式排列；在推扫方向上，第一组的第N行像元与第二组的第1行像元间的间距为像元宽度的整数倍；其中，N为时间延迟积分级数。
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