[发明专利]一种基于光学方法的大电流检测装置无效
| 申请号： | 201210038670.3 | 申请日： | 2012-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN102590584A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 张学典;侯英龙;毛辰飞;鲁敦科;常敏 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R15/24 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 吴泽群 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光学方法的大电流检测装置，包括激光光源、偏振控制及检测器、磁光晶体以及PC机，所述偏振控制及检测器的光输入端与激光光源通过保偏光纤相连，所述磁光晶体的一端与偏振控制及检测器的光输出端通过保偏光纤相连，所述磁光晶体的另一端与偏振控制及检测器的检测端通过保偏光纤相连，所述PC机与所述偏振控制及检测器相连。偏振控制及检测器不仅可以使偏振光的o光与e光产生不同的相位延迟而且可以检测偏振光的偏振态，磁光晶体使偏振光在通过大电流产生的磁场后与入射光的偏振面有一个较大的偏角，本发明的测量装置中不含铁芯，不存在磁饱和、铁磁谐振等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 方法 电流 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种基于光学方法的大电流检测装置，其特征在于，包括激光光源、偏振控制及检测器、磁光晶体以及PC机，所述偏振控制及检测器的光输入端与激光光源通过保偏光纤相连，所述磁光晶体的一端与偏振控制及检测器的光输出端通过保偏光纤相连，所述磁光晶体的另一端与偏振控制及检测器的检测端通过保偏光纤相连，所述PC机与所述偏振控制及检测器相连。
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