[发明专利]一种基于光学方法的大电流检测装置无效
| 申请号： | 201210038670.3 | 申请日： | 2012-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN102590584A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 张学典;侯英龙;毛辰飞;鲁敦科;常敏 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R15/24 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 吴泽群 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 方法 电流 检测 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于光学方法的大电流检测装置，其特征在于，
包括激光光源、偏振控制及检测器、磁光晶体以及PC机，所述偏振控制及检测器的光输入端与激光光源通过保偏光纤相连，所述磁光晶体的一端与偏振控制及检测器的光输出端通过保偏光纤相连，所述磁光晶体的另一端与偏振控制及检测器的检测端通过保偏光纤相连，所述PC机与所述偏振控制及检测器相连。
2.根据权利要求1所述的大电流检测装置，其特征在于：
所述大电流检测装置还包括温度控制器，所述磁光晶体以及与磁光晶体相连的保偏光纤设于温度控制器内，所述温度控制器还与PC机相连。
3.根据权利要求1所述的大电流检测装置，其特征在于：
所述激光光源采用1550nm或1310nm。
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