[发明专利]一种线偏振光偏振矢量方位的测量方法及其装置有效
申请号: | 201210023242.3 | 申请日: | 2012-02-02 |
公开(公告)号: | CN102589703A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 李巧玲;吴易明;肖茂森;胡晓东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J4/00 | 分类号: | G01J4/00;G02B5/30 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 徐平 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供一种线偏振光偏振矢量方位的测量方法及其装置,其测量装置包括偏振器件、基准棱镜、自准直经纬仪、带动偏振器件水平转动的一维转台和沿透光轴依次设置于偏振器件出射光路上的聚光镜和光电探测器,采用电控系统指示偏振器件是否转动到消光位置;偏振器件是由三块材料参数完全相同的方解石晶体胶合而成的一体件,其中,位于中间的方解石晶体记为A,位于两侧的方解石晶体分别记为B、C;则A具有上、下通光面,B、C均为楔形且B具有下通光面、C具有上通光面;B、C分别与A形成的斜向胶合面相互平行。本发明的测量装置的检测精度可以控制在10″以内;同时具有原理简单、操作方便等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 偏振光 偏振 矢量 方位 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1.一种线偏振光偏振矢量方位的测量方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)设置偏振器件、光电探测器和自准直经纬仪,其中,光电探测器设置于偏振器件的透光轴上,自准直经纬仪用于对偏振器件的侧面自准测量;所述的偏振器件是按照格兰泰勒偏振器的原理由三块材料参数完全相同的方解石晶体制成的一体件,其中,位于中间的方解石晶体记为A,位于两侧的方解石晶体分别记为B、C;则A具有上、下通光面,B、C均为楔形且B具有下通光面、C具有上通光面;B、C分别与A形成的斜向胶合面相互平行;2)使一束线偏振光依次通过偏振器件的A、B部分,输出至光电探测器,根据光电探测器得到的信号判断偏振器件是否相对线偏振光处于消光位置;假设偏振器件的透光轴方向为竖直方向,则水平转动偏振器件,使偏振器件相对线偏振光处于消光位置,即偏振器件的透光轴与入射线偏振光偏振矢量方向垂直;采用自准直经纬仪对偏振器件A部分的侧面自准测量,得到方位角θ1;3)保持自准直经纬仪方位不变,将偏振器件自身翻转180°,使此时的入射线偏振光依次穿过偏振器件的A、C部分;再次水平转动偏振器件,使偏振器件相对线偏振光处于消光位置;并由所述自准直经纬仪对偏振器件A部分的侧面自准测量,得到方位角θ2;4)按照
计算得到线偏振光偏振矢量的方位角![]()
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